Boundary-Scan ist eine Prüftechnik für integrierte Schaltungen und Leiterplatten. Dafür enthält ein Chip standardisierte Testlogik, über die digitale Zustände an Ein- und Ausgängen kontrolliert und geprüft werden können, ohne jeden Anschluss mit einer herkömmlichen Prüfsonde zu erreichen.
Die Technik ist mit dem Joint Test Action Group (JTAG) Test Access Port verbunden und wird durch IEEE 1149.1 beschrieben. Sie kann besonders bei dicht bestückten oder mehrlagigen Leiterplatten helfen, Verbindungen zwischen Bauteilen zu prüfen.
Boundary-Scan ersetzt nicht jede andere elektrische oder funktionale Prüfung; geeignete Testmuster und Unterstützung durch die Bauteile sind erforderlich.
Quellen und Prüfstand
Inhaltlich überarbeitet am 2026-10-13. Technik, Standardbezug und Prüfgrenzen dargestellt.